Стабильный инспекционный микроскоп 185x140 мм для прецизионных абразивов

Стабильный инспекционный микроскоп 185x140 мм для прецизионных абразивов

INTJ-51D — это новая система освещения и инспекционная система серии микроскопов учебного уровня с равномерным освещением и четким изображением. Революционная конструкция большой золотой рамы камеры позволяет загрузить большую 8-дюймовую рабочую платформу со стабильной и инновационной механической конструкцией, отвечающей требованиям профессионального рынка.

1. Наблюдение в открытом поле (передача)

Мощный светодиод мощностью 1,1 5 Вт, оснащенный фокусирующим зеркалом NA0.5, может проникать в освещение, наблюдать за цветным ЖК-дисплеем, краями рамки устройства и т. д.

1.2 Пропускающее и отражающее освещение управляются независимо и могут гореть одновременно или по отдельности.

ЖК-дисплей 10X (проходящий свет)

2. Наблюдение в открытом поле (отражение)

Система отражательного освещения, оснащенная недавно разработанным ахроматическим металлографическим объективом с бесконечным плоским полем и большим рабочим расстоянием, позволяет получать четкие, плоские и яркие микроизображения высокого качества с низкой до высокой продолжительность.

Интегральная схема 5X в открытом поле

Интегральная схема 100X открытое поле

3.Поляризирующее наблюдение

Поперечное сечение печатной платы в 20-кратном поляризованном свете

3.1. Вставьте стартовое зеркало и панель с заглушкой зеркала в положение освещения и выполните простое поляризационное наблюдение. Микроскоп можно разделить на два типа: фиксированный и вращающийся на 360°.

Наблюдение в темном поле FPC 10X

3.2. Потянув тягу освещения темного поля в указанное положение, можно использовать функцию темного поля для наблюдения за различными царапинами, загрязнениями и другими тонкими дефектами на поверхности объекта. Функция темного поля ограничена моделью INTJ-51D.

4. Наблюдения за дифференциальными помехами DIC

На основе ортогональной поляризации DIC может быть вставлен с помощью призмы дифференциальной интерференции DIC. Используя технологию DIC, небольшая разница в поверхности объектива может произвести очевидный эффект рельефа и значительно улучшить контрастность изображения.

5X, 10X и 20X специально разработаны для ДВС-синдрома, что обеспечивает единообразие интерференции всего поля зрения. Эффект дифференциальной интерференции очень превосходен, а эффект DIC мощного объектива также идеален.

Проводящие частицы 20X DIC

Вафля 50X ДИК

Стабильный инспекционный микроскоп для прецизионных абразивов Габаритные размеры

Стабильный инспекционный микроскоп для прецизионных абразивов.  Технические характеристики

Оптическая система	Оптическая система Unite для дальних хроматических разностей
Метод наблюдения	Открытое поле/темное поле/поляризованный/ДИК
Наблюдательная трубка	Наклон 30°, например, трехпроходная смотровая труба с бесконечным шарниром, регулировка Tong Tong: 50–76 мм, соотношение разделения: 100:0 или 0:100
	Наклон 30°, перевернутое изображение, трехпроходная наблюдательная головка с бесконечным шарниром, диапазон регулировки расстояния щипцов 50-76 мм, коэффициент разделения света трех типов передач: 0:100, 20:80 или 100:0.
Окуляр	Высокая точка зрения, большое поле зрения, плоское поле окуляра PL10X / 25 мм, регулируемое зрение, с одношкальной крестообразной маркировочной доской.
	Зеркало для глаз с высокой точкой обзора, большое поле зрения, плоское поле зрения PL10X/26,5 мм, регулируемое зрение, с одношкальной крестообразной маркировочной доской
Цель	Золотая цель (5X, 10X, 20X, 50X, 100X)
	Бесконечный длинный объектив открытого поля (5X, 10X, 20X, 50X, 100X)
чейнджер	Пятидырочный преобразователь светового поля со слотом DIC
	Преобразователь открытого поля с шестью отверстиями и слотом DIC
	Конвертер открытого типа с семью отверстиями и слотом DIC
Механизм фокусировки	Отражающая рамка, переднее нижнее положение руки, грубый микрокоаксиальный механизм фокусировки. Ход грубой регулировки 33 мм, точность точной настройки 0,001 мм; с устройством скользящей регулировки и устройством произвольного верхнего предела; встроенная система широкого напряжения 100–240 В, с настройкой яркости, темным поворотом и поворотом сброса
	Отражатель светового поля с регулируемой апертурой, апертурой поля, регулируемым центром; устройство переключения освещения светового поля; слот цветного фильтра и слот поляризатора
Таблица целей	8-дюймовая трехслойная платформа с механическим перемещением с низкой стрелкой X и Y; 525х330 мм, диапазон перемещения: 210х210 мм; с рукояткой сцепления для быстрого перемещения в полном диапазоне хода; стеклянная платформа (для отражения)
Светоотражающая система освещения	Отражатель светового поля с регулируемой апертурой, апертурой поля, регулируемым центром; устройство переключения освещения светового поля; слот цветного фильтра и слот поляризатора
Фото и видеозапись	Приемник камеры 0,5X/0,65X/1X, интерфейс C-типа, регулируемый фокус
Другой	Заглушка стартового зеркала, вставка фиксированного зеркала, заглушка вращающегося зеркала на 360°; компонент дифференциальных помех DIC; группа интерференционных фильтров на отражение; высокоточный микрометр